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LED加速老化试验及寿命测试系统

主要功能：用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。

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设备用途：
主要功能：用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。测试项目包括：LED光度（或光效）-时间变化曲线（光通量维持特性曲线）； LED光度-管基温度-时间变化曲线（温度特性试验）、LED色度-管基温度-时间变化曲线（温度特性试验）、LED结电压-时间变化曲线、LED结电压-光度变化曲线、LED结电压-色度变化曲线等。并可通过数据处理，建立推算模型，推算出该加速应力下LED样品的预期寿命。
满足IESNA LM-80-2008、IES TM-21、ENERGY STAR等国际及国内相关标准。

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